Crossbeam 550 FIB-SEM 结合了场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束（FIB）优异的加工性能，通过自动化连续切片并扫描电子显微成像，实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构。

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